Structure and properties of Pen film studied using ellipsometry,
| Tekijä | Palmroth, Tommi |
|---|---|
| Julkaisuvuosi | 2008 |
| Laitos | Energia- ja prosessitekniikan laitos, Kemian ja biotekniikan laitos, Materiaaliopin laitos, Teknisen suunnittelun laitos |
| Tiedekunta | TTY, automaatio-, kone- ja materiaalitekniikan tiedekunta, konetekniikan koulutusohjelma |
| Yliopisto | Tampere University of Technology, |