Julkaisu - Tampereen teknillinen yliopisto

Systeemitekniikan laitos

Dual data set of traversing on-line scans and high resolution ATPA analysis for studying CD/MD separation on paper machines

Tekijä Ptak, P., Mäkelä, M., Hiertner, M., Ritala, R., Kokko, T. & Kauranne, T.
Lehden/sarjan nimi 2008 Control Systems Pan-Pacific Conference. Conference Proceedings, June 16-18, Vancouver, Canada, 2008
Julkaisuvuosi 2008
Sivut p. 99-103
ISBN 978-1-897023-39-1; 978-1-897023-40-2
Julkaisutyyppi b3 j2tut
Vertaisarvioimaton artikkeli ja esitelmä tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kansainvälinen
Laitos Systeemitekniikka

Takaisin julkaisuihin