Charecterizing leakage current in silicon nanowire-based field-effect transistors by applying pseudo-random sequences
| Tekijä | Roinila,Tomi; , Yu, X.iao; Gao, Anran; Li, Tie; Verho, Jarmo; Vilkko, Matti; Kallio, Pasi; Wang, Yuelin; Lekkala, Jukka |
|---|---|
| Lehden/sarjan nimi | International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale |
| Konferenssin/kokoomateoksen nimi | Proceedings of Second International Conference on Manipulation, Manufacturing and Measurement on the Nanoscale, 29 Aug. - 1 Sept. 2012, Xi'an, China |
| Julkaisuvuosi | 2012 |
| Sivut | 1-5 |
| Julkaisutyyppi | a4 j2tut Referee artikkeli ja esitelmä tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kansainvälinen |
| Laitos | Systeemitekniikka |