Julkaisu - Tampereen teknillinen yliopisto

Systeemitekniikan laitos

Alignment and statistical analysis of 2D small-scale paper property maps

Tekijä Mettänen, M., Ihalainen, H. & Ritala, R.
Lehden/sarjan nimi 61st Appita Annual Conference and Exhibition. Proceedings of International Paper Physics Conference Papers, 6-10 May 2007, Gold Coast, Australia
Julkaisuvuosi 2007
Volyymi 2
Sivut p. 199-207
ISBN 978-0-9757469-2-8
Julkaisutyyppi a4 j2tut
Referee artikkeli ja esitelmä tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kansainvälinen
Laitos Mittaus- ja informaatiotekniikka

Takaisin julkaisuihin