Analyzing 2-dimensional variation based on scanning and imaging measurements
| Tekijä | Ohenoja, M.; Ylisaari, Johanna; Leiviskä, K.; Ritala, Risto |
|---|---|
| Konferenssin/kokoomateoksen nimi | PaperCon 2010 Conference, Twenty-Third Process Industry Reliability and Maintenance Conference, May 2-5, 2010, Atlanta, GA, USA |
| Julkaisuvuosi | 2010 |
| Sivut | 1-14 |
| Kustantaja | Tappi |
| Julkaisutyyppi | a4 j2tut Referee artikkeli ja esitelmä tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kansainvälinen |
| Laitos | Systeemitekniikka |