High temperature operation of 760 nm vertical-cavity surface-emitting lasers investigated using photomodulated reflectance wafer measurements and temperature-dependent device studies
| Tekijä | Cripps, S.A.; Hosea, T.J.C.; Sweeney, S.J.; Lock, D.; Leinonen, T.; Lyytikäinen, J.; Dumitrescu, M. |
|---|---|
| Lehden/sarjan nimi | IEE Proceedings - Optoelectronics |
| Julkaisuvuosi | 2005 |
| Volyymi | 152 |
| Numero | 2 |
| Sivut | pp. 103-109 |
| DOI | http://dx.doi.org/10.1049/ip-opt:20045022 |
| Julkaisutyyppi | ar Artikkeli kansainvälisessä referee-lehdessä |
| Laitos | Optoelektroniikan tutkimuskeskus |