Julkaisu - Tampereen teknillinen yliopisto

Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Structural characterization of InAs quantum dot chains grown by molecular beam epitaxy on nanoimprint lithography patterned GaAs(100)

Tekijä Hakkarainen, Teemu V.; Tommila, Juha; Schramm, Andreas; Tukiainen, Antti; Ahorinta, Risto; Dumitrescu, Mihail; Guina, Mircea
Lehden/sarjan nimi Nanotechnology
Julkaisuvuosi 2011
Volyymi 22
Artikkelinumero 295604
Sivut 1-7
ISSN 0957-4484
DOI http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/22/29/295604
Julkaisutyyppi a1
Referee alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä, kansainvälinen
Laitos Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Takaisin julkaisuihin