Julkaisu - Tampereen teknillinen yliopisto

Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Inductance deep-level transient spectroscopy for determining temperature-dependent resistance and capacitance of Schottky diodes

Tekijä Rangel-Kuoppa, V.T. & Pessa, M.
Lehden/sarjan nimi Review of Scientific Instruments
Julkaisuvuosi 2003
Volyymi 74
Numero 10
Sivut s. 4561-4563
Julkaisutyyppi ar
Artikkeli kansainvälisessä referee-lehdessä
Laitos Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Takaisin julkaisuihin