Relaxation analysis of tensile-strained GaInP by means of strain-induced wafer curvature
| Tekijä | Hakkarainen, T.V, Schramm, A., Toikkanen, L., Tukiainen, A. & Pessa, M. |
|---|---|
| Lehden/sarjan nimi | 15th European Molecular Beam Epitaxy Workshop, Zakopane, Poland, 8-11 March, 2009 |
| Julkaisuvuosi | 2009 |
| Numero | TuP15 |
| Sivut | 2 p |
| Julkaisutyyppi | b3 j2tut Vertaisarvioimaton artikkeli ja esitelmä tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kansainvälinen |
| Laitos | Optoelektroniikan tutkimuskeskus |