Structure of multilayered InxGa1-xAs1-yN/GaAs systems by the data of a two-crystal X-ray diffractometry
| Tekijä | Fodchuk, I.M., Kroytor O.P., Gevik, V.B., Gimchinsky, O.G., Molodkin, V.B., Kislovsky, Y.M., Olikhovsky, S.I., Pessa, M. & Pavelescu, E.M. |
|---|---|
| Lehden/sarjan nimi | Metallofizika i noveishie tekhnologii |
| Julkaisuvuosi | 2003 |
| Volyymi | 25 |
| Numero | 9 |
| Sivut | pp. 1219-1231 |
| Julkaisutyyppi | ar Artikkeli kansainvälisessä referee-lehdessä |
| Laitos | Optoelektroniikan tutkimuskeskus |