Julkaisu - Tampereen teknillinen yliopisto

Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Properties of the SiO2- and SiNx -capped GaAs(100) surfaces of GaInAsN / GaAs quantum-well heterostructures studied by photoelectron spectroscopy and photoluminescence

Tekijä Dahl, J.; Polojärvi, Ville; Salmi, Joel; Laukkanen, Pekka; Guina, Mircea
Konferenssin/kokoomateoksen nimi Applied Physics Letters
Julkaisuvuosi 2011
Volyymi 99
Numero 10
Artikkelinumero 102105
Sivut 1-3
ISSN 0003-6951
DOI http://dx.doi.org/10.1063/1.3634046
Julkaisutyyppi a1
Referee alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä, kansainvälinen
Laitos Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Takaisin julkaisuihin