X-ray analysis of strain relaxation in multilayer systems InxGa1-xAs1-yNy / GaAs
| Tekijä | Pessa, M., Pavelescu, E.-M., Fodchuk, I.M., Gevyk, V.B., Shpak, A.P., Molodkin, V.B., Kislovskii, E.N. & Olikhovskii, S.I. |
|---|---|
| Lehden/sarjan nimi | In: Angelsky, O. V. (ed.). Proceedings of SPIE Correlation Optics |
| Julkaisuvuosi | 2004 |
| Volyymi | 5477 |
| Sivut | s. 229-237 |
| Kustantaja | SPIE |
| Julkaisutyyppi | a4 Referee artikkeli tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kansainvälinen |
| Laitos | Optoelektroniikan tutkimuskeskus |