Julkaisu - Tampereen teknillinen yliopisto

Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Wet oxidation for detecting surface defect pits of AlGaAs related semiconductors

Tekijä Peng, C.S.; Konttinen, J.; Jouhti, T.; Liu, H.F.; Pessa, M.
Lehden/sarjan nimi Journal of Crystal Growth
Julkaisuvuosi 2005
Volyymi 274
Sivut pp. 138-143
DOI http://dx.doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2004.09.084
Julkaisutyyppi ar
Artikkeli kansainvälisessä referee-lehdessä
Laitos Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Takaisin julkaisuihin