Julkaisu - Tampereen teknillinen yliopisto

Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Experimental study of temperature sensitivity of carrier lifetime and recombination coefficients in GaInNAs SQW lasers

Tekijä Pozo, J., Ivanov, P., Qiu, Y., Rorison, J., Konttinen, J., Saarinen, M., Jouhti, T. & Pessa, M.
Lehden/sarjan nimi CLEO Europe, Münich, Germany, 12-17 June, 2005
Julkaisuvuosi 2005
Volyymi 29B
Sivut 1 p
Julkaisutyyppi a4 j2tut
Referee artikkeli ja esitelmä tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kansainvälinen
Laitos Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Takaisin julkaisuihin