Julkaisu - Tampereen teknillinen yliopisto

Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Highly Selective Etch Stop Layer for GaSb Substrate Removal

Tekijä Lindfors, Jukka; Paajaste, Jonna; Koskinen, Riku; Härkönen, Antti; Suomalainen, Soile; Guina, Mircea
Lehden/sarjan nimi Semiconducting and Insulating Materials Conference SIMC
Konferenssin/kokoomateoksen nimi 16th Semiconducting and Insulating Materials Conference (SIMC-XVI) June 16 - 23, 2011, Stockholm, Sweden
Julkaisuvuosi 2011
Sivut 1-1
Julkaisupaikka Stockholm
Kustantaja Royal Institute of Technology
Julkaisutyyppi a4 j2tut
Referee artikkeli ja esitelmä tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kansainvälinen
Laitos Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Takaisin julkaisuihin