Vectorial second-harmonic generation microscopy of metallic nanoparticles
| Tekijä | Kauranen, Martti; Bautista, Godofredo; Huttunen, Mikko; Mäkitalo, Jouni; Kontio, Juha; Simonen, Janne |
|---|---|
| Lehden/sarjan nimi | Japan-Finland Joint Symposium on Optics in Engineering OIE |
| Konferenssin/kokoomateoksen nimi | OIE'11, The Ninth Japan-Finland Joint Symposium on Optics in Engineering, September 8-10, 2011, Turku, Finland |
| Julkaisuvuosi | 2011 |
| Sivut | 12-13 |
| Julkaisupaikka | Turku |
| Kustantaja | OIE'11 |
| Julkaisutyyppi | a4 j2tut Referee artikkeli ja esitelmä tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kansainvälinen |
| Laitos | Fysiikka Optoelektroniikan tutkimuskeskus |