Electronic and structural properties of GaAs(100)(2X4) and InAs(100)(2X4) surfaces studied by core-level photoemission and scanning tunneling microscopy
| Tekijä | Laukkanen, P.; Kuzmin, M.; Perälä, R.E.; Ahola, M.; Mattila, S.; Väyrynen, I.J.; Sadowski, J.; Konttinen, J.; Jouhti, T.; Peng, C.S.; Saarinen, M.; Pessa, M. |
|---|---|
| Lehden/sarjan nimi | Physical Review |
| Julkaisuvuosi | 2005 |
| Volyymi | B72 |
| Sivut | pp. 045321--1-9 |
| DOI | http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.72.045321 |
| Julkaisutyyppi | ar Artikkeli kansainvälisessä referee-lehdessä |
| Laitos | Optoelektroniikan tutkimuskeskus |