Julkaisu - Tampereen teknillinen yliopisto

Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Influence of nitride and oxide cap layers upon the annealing of 1.3 um GaInNAs/GaAs quantum wells

Tekijä Liu, H.F., Peng, C.S., Likonen, J., Jouhti, T., Karirinne, S., Konttinen, J. & Pessa, M.
Lehden/sarjan nimi Journal of Applied Physics
Julkaisuvuosi 2004
Volyymi 95
Numero 8
Sivut s. 4102-4104
Julkaisutyyppi ar
Artikkeli kansainvälisessä referee-lehdessä
Laitos Optoelektroniikan tutkimuskeskus

Takaisin julkaisuihin