Line defects in two-dimensional four-beam interference patterns
| Tekijä | Tan, C.; Peng, C.S.; Petryakov, V.N.; Verevkin, Yu.K.; Zhang, J.; Wang, Z.; Olaizola, S.M.; Berthou, T.; Tisserand, S.; Pessa, M. |
|---|---|
| Lehden/sarjan nimi | New Journal of Physics |
| Julkaisuvuosi | 2008 |
| Numero | 023023 |
| Sivut | 8 p |
| ISSN | 1367-2630 |
| DOI | http://dx.doi.org/10.1088/1367-2630/10/2/023023 |
| Julkaisutyyppi | ar Artikkeli kansainvälisessä referee-lehdessä |
| Laitos | Optoelektroniikan tutkimuskeskus |