The role of tip size and orientation, tip-surface relaxations and surface impurities in simultaneous AFM and STM studies on the TiO2(110) surface
| Tekijä | Pinto, H.P., Enevoldsen, G.H., Besenbacher, F., Lauritsen, J.V. & Foster, A.S. |
|---|---|
| Lehden/sarjan nimi | Nanotechnology |
| Julkaisuvuosi | 2009 |
| Volyymi | 20 |
| Artikkelinumero | 264020 |
| Sivut | 1-9 |
| ISSN | 0957-4484 |
| DOI | http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/20/26/264020 |
| Julkaisutyyppi | ar Artikkeli kansainvälisessä referee-lehdessä |
| Laitos | Fysiikka |