Sublattice identification in noncontact atomic force microscopy of the NaCi(001) surface
| Tekijä | Hoffmann, R., Weiner, D., Schirmeisen, A. & Foster, A. |
|---|---|
| Lehden/sarjan nimi | Physical Review B |
| Julkaisuvuosi | 2009 |
| Volyymi | 80 |
| Numero | 11 |
| Sivut | pp. 115426-1-8 |
| ISSN | 1098-0121 |
| DOI | http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.80.115426 |
| Julkaisutyyppi | ar Artikkeli kansainvälisessä referee-lehdessä |
| Laitos | Fysiikka |