Publication - Tampere University of Technology

> Suomeksi
Optoelectronics Research Centre

The effect of annealing on highly Be-doped InGaAsN / GaAs single quantum wells

Author Pakarinen, J., Peng, C.S., Polojärvi, V., Laukkanen, P., Tukiainen, A., Korpijärvi, V.-M., Puustinen, J., Arola, E. & Pessa, M.
Source In: Kärki, O. et al. (eds). Proceedings of the Annual Conference of the Finnish Physical Society, 27-29 March, 2008, Turku, Finland. Åbo Akademi University. Report series in physics
Publication year 2008
Volume 31
Pages p. 112
ISBN 978-951-29-3515-4
ISSN 0788-9305
Document type b3 j2tut
Vertaisarvioimaton artikkeli ja esitelmä tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kotimainen
Department Optoelektroniikan tutkimuskeskus
Fysiikka

Back to publications