X-ray analysis of strain relaxation in multilayer systems InxGa1-xAs1-yNy / GaAs
| Author | Pessa, M., Pavelescu, E.-M., Fodchuk, I.M., Gevyk, V.B., Shpak, A.P., Molodkin, V.B., Kislovskii, E.N. & Olikhovskii, S.I. |
|---|---|
| Source | In: Angelsky, O. V. (ed.). Proceedings of SPIE Correlation Optics |
| Publication year | 2004 |
| Volume | 5477 |
| Pages | s. 229-237 |
| Publisher | SPIE |
| Document type | a4 Referee artikkeli tieteellisessä konferenssijulkaisussa, kansainvälinen |
| Department | Optoelektroniikan tutkimuskeskus |